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藍(lán)寶石晶片表面缺陷測試儀

SD-300i用于測定藍(lán)寶石的表面缺陷,適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀,實現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。





藍(lán)寶石晶片表面缺陷測試儀-產(chǎn)品特點:
 缺陷和定向雙功能
 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩,確保安全使用
 表格和曲線的形式顯示,一目了然
 速度快,重復(fù)性好
 效率高,數(shù)據(jù)實時處理





藍(lán)寶石晶片表面缺陷測試儀-技術(shù)參數(shù):
 測試時間:1-2分鐘
 重復(fù)性精度:≤±5″。
 測角精度為±15″
 最小讀數(shù)1″





藍(lán)寶石晶片表面缺陷測試儀-典型客戶:
臺灣及國內(nèi)藍(lán)寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。